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江苏粤科检测元器件筛选实验室配备了先进的粒子碰撞噪声检测仪，专注于继电器、电源模块、晶振、半导体分立器件和集成电路等多种空腔元器件的粒子碰撞噪声检测(PIND)试验，有效提升电子元器件的使用可靠性。

密封元器件的隐藏杀手

密封元器件在生产过程中可能会封装一些多余的微小松散颗粒，这些颗粒在使用过程中可能引发元器件失效。具体而言，在生产带空腔的密封元器件时，焊锡渣、松香、金属屑、密封剂、灰尘等微小颗粒有可能被封装在密封空腔内。

在外界强振动或冲击环境下，这些多余微小颗粒受到外力激励会被激活，与腔壁及腔内其他结构随机碰撞，导致元器件短路、不动作、误动作等失效情况的发生，从而造成质量事故。因此，检测密封元器件内的多余微小松散颗粒是确保其可靠性的重要手段。

PIND试验原理

PIND试验是一种非破坏性试验，旨在检测元器件封装腔体内的自由粒子。其基本原理是通过振动装置、驱动装置、冲击装置、阈值检测器、粘附剂和传感器等设备，模拟实际应用条件下的正弦振动和脉冲冲击环境。

具体步骤如下：

1. 振动：给元器件施加一个近似实际应用条件的正弦振动。

2. 冲击：施加脉冲冲击，使粒子在腔体内移动。

3. 检测：通过传感器检测粒子与封装壳体碰撞时产生的噪声。

当粒子质量足够大时，通过振动和冲击循环，粒子与器件封装壳体碰撞，传感器会探测到这些碰撞噪声，从而确认腔体内是否存在多余颗粒。

案例分享

器件信息  

- 器件名称：集成电路  

- 器件型号：M27C512  

- 试验依据：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2020.1  

PIND试验项目和条件  

- 试验前冲击：1000g，3次  

- 振动：20g，1次，60Hz，3s  

- 振动同时冲击：1000g，3次  

- 振动：20g，1次，60Hz，3s  

- 振动同时冲击：1000g，3次  

- 振动：20g，1次，60Hz，3s  

- 振动同时冲击：1000g，3次  

- 振动：20g  

江苏粤科检测的优势

1. 专业设备：配备国际先进的粒子碰撞噪声检测仪，确保检测结果的准确性和可靠性。

2. 经验丰富：拥有一支经验丰富的专业团队，能够为客户提供高质量的技术支持和服务。

3. 严格标准：严格按照国际和国家标准进行检测，确保结果的权威性和公信力。

4. 全面服务：提供从样品接收、检测实施到报告出具的全流程服务，满足客户的各种需求。

江苏粤科检测作为专业的第三方粒子碰撞噪声检测（PIND）试验机构，致力于为客户提供高质量的检测服务，确保电子元器件的可靠性和安全性。通过严格遵循国际和国家标准，江苏粤科检测帮助客户发现和消除密封元器件中的多余微小松散颗粒，避免质量事故的发生。如果您需要PIND试验检测服务，请随时联系江苏粤科检测，我们将竭诚为您服务。

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